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X熒光光譜儀的多種樣品檢測方法
發(fā)布時(shí)間：2022-12-05 08:51:12 點(diǎn)擊：4256
X熒光光譜儀是一款可應(yīng)用于多種類樣品檢測的儀器，無論對于固體、液體、粉塵、氣體等均可以進(jìn)行有效分析。其進(jìn)行樣品檢測的方式是怎么樣的呢？
樣品制備X射線熒光光譜法是一種表面分析辦法，必需注重分析面相對于囫圇樣品是否具有代表性，樣品是否勻稱，任何制樣過程和步驟必需有十分好的重復(fù)可操作性。不同X射線熒光光譜儀對樣品要求不同，不同樣品有不同的制樣辦法。固體樣品假如大小外形合適可以挺直分析，外形不規(guī)章可以經(jīng)過容易的切割達(dá)到X熒光光譜儀的要求，只需舉行表面處理，液體樣品可以挺直分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上挺直舉行分析，而粉末樣品的制樣辦法就比較復(fù)雜，通常需要經(jīng)過壓片處理。
X熒光光譜儀的土壤檢測分析
工作曲線的制作和校正根據(jù)儀器的操作規(guī)程開啟儀器，并預(yù)熱儀器直至儀器穩(wěn)定。挑選與測試樣品基體相匹配的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)光譜儀的優(yōu)化測量條件，用X射線熒光光譜儀測定標(biāo)準(zhǔn)樣品中待分析元素的熒光強(qiáng)度，按照標(biāo)準(zhǔn)祥品所給定的標(biāo)準(zhǔn)值和光譜儀所測得的強(qiáng)度制作工作曲線。電子電氣產(chǎn)品涉及的材料品種十分之多，分析元素的特征譜線常受到來自測試樣品中的基體影響、元素間譜線重疊干擾等因素影響，這些影響因素可通過工作曲線的校正，詳細(xì)可以通過背景扣除法、基本參數(shù)法、閱歷系數(shù)法等校正辦法舉行干擾校正。
待測樣品的采譜測定將待測樣品放在樣品室內(nèi)舉行測試。假如樣品是液態(tài)、粉末或顆粒，或者只是一很小的樣品，它需要在帶有不行重復(fù)用法薄膜的樣品杯里舉行測量。操作這個(gè)窗口薄膜時(shí)，當(dāng)心不要接觸它的表面以免對其造成污染。全部樣品必需徹低籠罩光譜儀的測量窗口，對于輕合金起碼達(dá)到4mm厚，密度較大的合金起碼1mm厚，塊狀塑料1cm厚，粒狀塑料放樣品杯里2cm厚，液態(tài)、粉末基本上填滿樣品杯。
使用X熒光光譜儀對多種樣品進(jìn)行分析檢測，是一種非常高效的檢測方式。上一篇：直讀光譜儀的定性定量分析檢測方法 下一篇：有效提高直讀光譜儀檢測準(zhǔn)確度的措施
